ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت Park Systems Inc. در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
-
Atmosphere:
controlled atmosphere
-
Function:
annealing
-
Options and accessories:
digital camera
-
Other characteristics:
automated
-
Other characteristics:
continuous
-
Technical applications:
for in-line wafer inspection
-
Type:
atomic force
-
Type:
belt conveyor
The Park XE-Wafer is a fully automated industrial AFM that can measure surface roughness, trench width, depth and angle measurements on 200mm & 300mm wafers with precision in a production environment.
Artifact Free Metrology by Crosstalk Elimination
Unique decoupled XY scanning system provides a flat scanning stage
Flat and linear XY scan removes artifacts from background curvature
Accurate feature measurements with industry leading gauge statistics
Superior tool to tool matching
Superior Accuracy and Longer Tip Life by True Non-Contact ModeTM
Less tip wear for prolonged high-quality and high-resolution imaging
Immunity from parameter-dependent results observed in tapping imaging
10 times or longer tip life for general purpose & defect imaging
Precision Nanometrology Measurements
Surface roughness measurement below 1Ã… RMS roughness
Provides the precision angle measurement accuracy of less than 0.1 degrees
Low noise floor enables surface flatness measurements for long range CMP metrology
High-Throughput Inline Automation
Automatic data acquisition and analysis of angles, roughness, and trench features
Cleanroom compatibility and remote control interface
Automatic tip exchange (optional)
Equipment Front End Module (EFEM) for automatic wafer handling (optional)
Long range traveling stage for CMP profiling (optional)