عضویت 
ورود اعضا
راهنمای خرید
LOADING
تحلیل کننده طیف الکترونی ثابت
DA30-L
چگونه این محصول را خریداری کنم؟
درخواست قیمت
درخواست مشاوره و مدارک فنی
پرسش
خدمات خرید VIP
شما می توانید از سرویس رایگان نمایشگاه استفاده نموده و درخواست خود را مستقیما به شرکت سازنده ارسال نمایید و پس از دریافت قیمت و با ورود اطلاعات به " ماشین محاسبه قیمت ریالی " از قیمت ریالی کالا بصورت تخمینی مطلع شوید . اگر مایلید مکاتبه با شرکت سازنده ، تبادل اطلاعات و دریافت قیمت ارزی و ریالی توسط کارشناسان این مجموعه انجام شود لطفا از این طریق اقدام فرمایید. استفاده از این سرویس مستلزم پرداخت هزینه است . برای دریافت اطلاعات بیشتر با تلفن 41995 تماس حاصل فرمایید.
ادامه
ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
افزودن به لیست علاقه مندی ها
سایر سازندگان این محصول
درخواست قیمت ریالی
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت OMICRON در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
مشخصات فنی
-
Measured value:
electron spectrum
-
Portability:
fixed
30° degrees full cone acceptance without sample rotation
Spin-resolved MDC without sample rotation
Patent pending
Improved ky accuracy (resolution better than 0.1º)
Time saving (electronic defl ection is faster than rotation)
Matrix element effects are avoided by keeping sample fixed
Manipulator requirements are reduced
Ensures same spot for all k//
With the new DA30, we are proud to present the world’s first hemispherical analyser using deflectors that enables angular scans in two dimensions in k-space without tilting the sample.
Spin Scan
A major advantage of the MCP/CCD and Spin detection combination is that the parallel angular detection can be used to ensure that the spin-resolved measurement is performed at the desired point in k-space. In the previous Scienta analysers, this has been
acheived by fi rst recording a parallel ARPES spectrum with the MCP/CCD detector and then, without tilting the sample, recording a spin-resolved spectrum for the
center of that spectrum.
With the new analyser concept deflectors have been added. This can be used to record
spin-resolved spectra for all points of the recorded ARPES spectrum. Different lines can of course be combined to cover the whole plane in θx-E-space.
Spin-resolved MDC without sample rotation
Patent pending
Improved ky accuracy (resolution better than 0.1º)
Time saving (electronic defl ection is faster than rotation)
Matrix element effects are avoided by keeping sample fixed
Manipulator requirements are reduced
Ensures same spot for all k//
With the new DA30, we are proud to present the world’s first hemispherical analyser using deflectors that enables angular scans in two dimensions in k-space without tilting the sample.
Spin Scan
A major advantage of the MCP/CCD and Spin detection combination is that the parallel angular detection can be used to ensure that the spin-resolved measurement is performed at the desired point in k-space. In the previous Scienta analysers, this has been
acheived by fi rst recording a parallel ARPES spectrum with the MCP/CCD detector and then, without tilting the sample, recording a spin-resolved spectrum for the
center of that spectrum.
With the new analyser concept deflectors have been added. This can be used to record
spin-resolved spectra for all points of the recorded ARPES spectrum. Different lines can of course be combined to cover the whole plane in θx-E-space.
