عضویت 
ورود اعضا
راهنمای خرید
LOADING
دستگاه سنجش طیفسنجش نوری
190 - 3 500 nm | SENresearch
چگونه این محصول را خریداری کنم؟
درخواست قیمت
درخواست مشاوره و مدارک فنی
پرسش
خدمات خرید VIP
شما می توانید از سرویس رایگان نمایشگاه استفاده نموده و درخواست خود را مستقیما به شرکت سازنده ارسال نمایید و پس از دریافت قیمت و با ورود اطلاعات به " ماشین محاسبه قیمت ریالی " از قیمت ریالی کالا بصورت تخمینی مطلع شوید . اگر مایلید مکاتبه با شرکت سازنده ، تبادل اطلاعات و دریافت قیمت ارزی و ریالی توسط کارشناسان این مجموعه انجام شود لطفا از این طریق اقدام فرمایید. استفاده از این سرویس مستلزم پرداخت هزینه است . برای دریافت اطلاعات بیشتر با تلفن 41995 تماس حاصل فرمایید.
ادامه
ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
افزودن به لیست علاقه مندی ها
سایر سازندگان این محصول
درخواست قیمت ریالی
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
مشخصات فنی
-
Options:
spectroscopic
The spectroscopic ellipsometer SENresearch measures thin film thickness, refractive index, extinction coefficient, and related properties of bulk materials, single layers, and multi‑layer stacks. Isotropic and anisotropic materials, surface and interface roughness as well as gradients can be analyzed. Furthermore, SpectraRay/3, SENTECH proprietary ellipsometer software, treats sample effects like depolarization, non-uniformity, scattering (Mueller-matrix), and backside reflection.
The SENresearch represents the high end of SENTECH spectroscopic ellipsometers. The compact table top instrument comprises the ellipsometer optics, goniometer, sample platform, auto-collimating telescope, light source, and detection unit. It can be extended
The SENresearch is focused on speed and accuracy for insitu and exsitu measurements of thin films wherever they are applied. Applications range from measuring on textured surfaces to determining the conductivity of TCO films, from insitu monitoring of deposition processes to offline mapping on large glass panels. With the latest development launched by SENTECH, magneto‑optical properties can be characterized. For a large variety of applications predefined recipes are offered by SpectraRay/3 for spectroscopic ellipsometer.
The SENresearch represents the high end of SENTECH spectroscopic ellipsometers. The compact table top instrument comprises the ellipsometer optics, goniometer, sample platform, auto-collimating telescope, light source, and detection unit. It can be extended
The SENresearch is focused on speed and accuracy for insitu and exsitu measurements of thin films wherever they are applied. Applications range from measuring on textured surfaces to determining the conductivity of TCO films, from insitu monitoring of deposition processes to offline mapping on large glass panels. With the latest development launched by SENTECH, magneto‑optical properties can be characterized. For a large variety of applications predefined recipes are offered by SpectraRay/3 for spectroscopic ellipsometer.
