منابع یابی و خرید تجهیزات صنعتی

میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی

10 محصول صنعتی 10 شرکت
Bruker Optics
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
SENTERRA

Raman microscope:The SENTERRA is a high performance Raman microscope spectrometer designed for the most demanding analytical and research applications. Its most important innovation is certainly its internal continuous calibration as it ensures highest wavenumber accuracy without the need for calibrations with external standards.

Carl Zeiss Microscopy
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Microscope for material analysis (ZEISS Axio Imager Vario)

ماژول میکروسکوپ سری Axio Imager upright جهت تست و آنالیز موارد مورد استفاده قرار میگیرد و دارای سلول خورشیدی، ویفر، نمایشگر فلت پانل، و کارکرد و دوام بالا میباشد.

HORIBA Scientific
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
100 - 3 500 Cm-1 | XploRA ONE™

Raman microscope:The XploRA ONE offers new capabilities to the industrial and analytical user, providing the highest performance Raman analysis, in a cost effective and robust intrument package.It is ideal for routine analytical, reasearch and quality testing applications.

Jeol
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Scanning electron microscope (SEM) (miXcroscopy)
LEICA MICROSYSTEMS
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Microscope for material analysis (DM1750 M)

میکروسکوپ آنالیز مواد سری DM1750 از شرکت Leica نوعی میکروسکوپ مواد است که جهت ارائه ی نتایج سریع، و آنالیز دقیق طراحی میشود و حتی جهت در شرایط محیطی سخت مورد استفاده قرار میگیرد.

Nikon Metrology
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Electronic microscope / bench-top / measuring / compact (50 x 50 x 110 mm | MM-200)

این میکروسکوپ یک مدل کامپکت و سبک وزن است که دارای قیمت مناسبی بوده و دقت بالایی در اندازه گیری فلزات، پلاستیک و قطعات الکترونیکی صنایع دارد.

OMICRON
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Electronic microscope / field emission scanning / digital camera / for analysis (LT NANOPROBE)

این میکروسکوپ کلاس جدیدی از ابزارهای آنالیز را معرفی می کند که دارای پراب روبشی نانومتری بوده و در دمای LHe  کار کرده و می تواند کارهای تصویرگیری STM، طیف سنجی و دستکاری مواد را با کیفیت بالایی انجام دهد.

Olympus Industrial
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Electronic microscope / digital camera / measurement (STM6-LM)

این میکروسکوپ دارای یک صفحه نمایش 250 *150 میلیمتر بوده و می تواند اندازه گیری های سه محوری قطعات الکترونیکی را با دقت زیر میکرون اندازه گیری کند.

Phenom-World
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Scanning electron microscope (SEM) (20 - 20 000X | Phenom Pure)

دوربین الکترونی روبشی سری Phenom Pure تصاویر با کیفیت بالا ارائه میکند و بسیار سریع عمل میکند. این ابزار دارای کاربری آسان بوده و بسیار قابل اطمینان میباشد.

Testing Machines Inc
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
میکروسکوپ های FEM,اشعهX,الکترونی
Electronic microscope / digital camera / for analysis (68-86 DPM)

این میکروسکوپ تصاویر را با رزولوشن رنگی بالایی به اندازه 1280 * 1024 پیکل ارائه داده و دارای درخشانی LED مجتمعی است که می تواند خاموش یا روشن شود و درخشش اپتیکی را برای بررسی های ویژه ممکن سازد.


Warning: IC24: trying to acquire a segment type 0 in Unknown on line 0

Warning: IC24: Unexpected segment type 0 found in message list in Unknown on line 0